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表面粗糙度測試

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設(shè)備:AFM粗糙度測試儀Dimension ICON

廠商:德國 Bruker

用途:通過探測微細(xì)針尖和樣品原子團(tuán)之間相互作用力的變化來檢測樣品表面的高低起伏,具有原子級分辨率的表面形貌和表面特性分析。檢測固體材料粗糙度和局部形貌

技術(shù)指標(biāo):

l  最大掃描范圍:10umX10um,最小值:10nmX10nm

l  樣品臺尺寸:φ35mm

l  表面粗糙度:最大值為1μm

l  測試模塊:形貌測試、導(dǎo)電性能測試、靜電力測試、表面電勢測試、磁學(xué)測試、納米力學(xué)測試


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 傳真:0769-23078230

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